MATERIALWISSENSCHAFT
MIKROSKOPSPEKTROMETER FÜR DIE MATERIALWISSENSCHAFTEN
Die Mikroskopspektrometer der Firma JM Microsystems GmbH werden weltweit in materialwissenschaftlichen Untersuchungen eingesetzt. Ein wichtiges Einsatzgebiet dieser Systeme ist die Petrographie oder Kohleanalytik. Eine häufige Anwendung ist die Bestimmung der sogenannten Kohle- oder auch Vitrinitreflektion. Dabei wird der Reflektionswert einer Kohleschliffprobe unter dem Mikroskop gemessen. Die Messung und Auswertung erfolgt gemäß DIN/ISO oder ASTM Standards. Dabei kommt häufig die Mikroskopphotometrie oder -spektroskopie zum Einsatz, hier werden Einwellenlängendetektoren oder leistungsfähige Diodenarrayspektrometer mit einem Lichtmikroskop kombiniert. Die Messungen erfolgen im Auflicht, Fluorezenz- und Polarisationsmessungen sind ebenso möglich und nur von der Ausstattung des eingesetzten Mikroskops abhängig.
JM Microsystems GmbH liefert für die Kohleanalytik komplette Systeme, die einfach an Mikroskope von verschiedenen Herstellern adaptiert werden können. Ebenso ist eine Um- oder Aufrüstung bereits vorhandener MPM- oder MPV-Systeme möglich. Einfach und intuitiv zu bedienende Software zur Steuerung, zur Datenerfassung und Auswertung sowie Kamerasysteme, die ebenfalls zur Kohleanalytik eingesetzt werden können, runden die Palette ab.
JM Microsystems GmbH ist auch Ihr Partner, wenn es um die Wartung, die Instandhaltung sowie die Überprüfung Ihrer Mikroskopspektrometersysteme geht. JM Microsystems GmbH bietet weiterhin zertifizierte Standards an mit denen eine einfache Kalibrierung der Messsysteme möglich ist.
- Geologie und Petrografie (Vitrinitreflektion, Maceralanalytik): S MSP-200
- Farbmessungen an Folien: E MSP, S MSP-400/800/1000
- LEDs und TFT- Displays: S MSP-400/800/1000, TIDAS S HYPERSPEC
- Endpunktdetektion beim Plasmaätzen an Wafern: S MSP-400/800/1000
- Fluoreszenzen: S MSP-400/800/1000
- Schnelle Kinetiken: S MSP-400/800/1000
- Synthese von Nanopartikeln und vieles mehr…: S MSP-400/800/1000